-
1 Atomic Force Microscope
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопаRussian-English dictionary of Nanotechnology > Atomic Force Microscope
-
2 atomic force microscope
Optics: AFMУниверсальный русско-английский словарь > atomic force microscope
-
3 атомно-силовой микроскоп
Русско-английский физический словарь > атомно-силовой микроскоп
-
4 атомно-силовой микроскоп
atomic-force microscope, force microscopeРусско-английский словарь по электронике > атомно-силовой микроскоп
-
5 атомно-силовой микроскоп
atomic-force microscope, force microscopeРусско-английский словарь по радиоэлектронике > атомно-силовой микроскоп
-
6 АСМ
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопа -
7 непосредственное измерение силы сцепления отдельной частицы с использованием атомного силового микроскопа
Универсальный русско-английский словарь > непосредственное измерение силы сцепления отдельной частицы с использованием атомного силового микроскопа
-
8 атомно-силовой микроскоп
Makarov: atomic-force microscopeУниверсальный русско-английский словарь > атомно-силовой микроскоп
-
9 сканирующий атомно-силовой микроскоп
Makarov: scanning atomic-force microscopeУниверсальный русско-английский словарь > сканирующий атомно-силовой микроскоп
-
10 ферроценовые группы, иммобилизованные на острие атомного силового микроскопа
Универсальный русско-английский словарь > ферроценовые группы, иммобилизованные на острие атомного силового микроскопа
-
11 сканирующий атомно-силовой микроскоп
Русско-английский физический словарь > сканирующий атомно-силовой микроскоп
-
12 растровый атомно-силовой микроскоп
Русско-английский словарь по электронике > растровый атомно-силовой микроскоп
-
13 растровый атомно-силовой микроскоп
Русско-английский словарь по радиоэлектронике > растровый атомно-силовой микроскоп
-
14 атомно-силовой микроскоп
Russian-English dictionary of Nanotechnology > атомно-силовой микроскоп
-
15 AFM
См. также в других словарях:
Atomic force microscope — Microscope à force atomique Pour les articles homonymes, voir AFM et Microscope. Le premier microscope à force ato … Wikipédia en Français
atomic force microscope — n an instrument used for mapping the atomic scale topography of a surface by means of the repulsive electronic forces between the surface and the tip of a microscopic probe moving above the surface abbr. AFM … Medical dictionary
Atomic Force Microscope — Atomic Force Microscope (AFM) Атомно силовой микроскоп (АСМ) Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно силового взаимодействия… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
Atomic force microscope — The atomic force microscope (AFM) or scanning force microscope (SFM) is a very high resolution type of scanning probe microscope, with demonstrated resolution of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction… … Wikipedia
atomic force microscope — atominės jėgos mikroskopas statusas T sritis chemija apibrėžtis Mikroskopas paviršiaus ypatumams tirti kontroliuojant specialaus zondo sąveikos su paviršiumi jėgą. atitikmenys: angl. atomic force microscope rus. микроскоп атомной силы … Chemijos terminų aiškinamasis žodynas
atomic force microscope — noun A device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface See Also: atomic force microscopy … Wiktionary
atomic force microscope — A type of scanning probe microscope that images a surface by moving a sharp probe over the surface at a constant distance; a very small amount of force is exerted on the tip and probe movement is followed with a laser … Dictionary of microbiology
atomic force microscopy — n the art or process of using an atomic force microscope abbr. AFM … Medical dictionary
Magnetic force microscope — MFM images of 3.2 GB and 30 GB computer hard drive surfaces. Magnetic force microscope (MFM) is a variety of atomic force microscope, where a sharp magnetized tip scans a magnetic sample; the tip sample magnetic interactions are detected and used … Wikipedia
Electrostatic force microscope — Electrostatic force microscopy (EFM) is a type of dynamic non contact atomic force microscopy where the electrostatic force is probed. ( Dynamic here means that the cantilever is oscillating and does not make contact with the sample). This force… … Wikipedia
Friction force microscope — A friction force microscope is an atomic force microscope with a four quadrant photodetector, which allows measuring the frictional force acting on the probing tip sliding on a surface from the torsion of the cantilever beam where the tip is… … Wikipedia